21. Lock-in thermography

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Electronic apparatus and appliances-- Testing.,Electronic apparatus and appliances-- Thermal properties.,Semiconductors-- Thermal properties.,Thermography.

رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010eb

22. Lock-in thermography

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography

رده :
E-BOOK

23. Microelectronic failure analysis: Instrumentation, science, materials and applications

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)

موضوع : Electronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc,Microelectronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc,Microelectronics--Materials--Defects--Handbooks, manuals, etc,Electronic apparatus and appliances--Testing--Handbooks, manuals, etc,Semiconductors--Defects--Handbooks, manuals, etc

رده :
{
1648
},
fe823984b80082dc2d17ebe2cd118be2

24. Microelectronic test structures for CMOS technolog

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local

رده :
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011

25. Microelectronic test structures for CMOS technology

کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;

26. Microelectronic test structures for CMOS technology

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing

رده :
TK7871
.
99
.
M44B49
2011

27. Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: )lectured presented at the NATO advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, September 19-29, 1978

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Semiconductors - Testing - Congresses

رده :
TK
7871
.
85
.
N376
1978

28. Optical absorption of impurities and defects in semiconducting crystals :

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Crystal optics.,Optical spectroscopy.,Semiconductors-- Optical properties.,Semiconductors-- Testing-- Optical methods.

رده :
QC611
.
6
.
O6
P35
2013

29. Optical characterization of semiconductors :

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Semiconductors-- Testing-- Optical methods

رده :
TK7871
.
85
.
P426
1993

30. Optical characterization of semiconductors

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه بين المللي امام خميني (ره) قزوين (قزوین)

موضوع : Semiconductors- Testing- Optical methods,Semiconductors- Optical properties

رده :
TK
.
P426
7871
.
85
1993

31. Optical characterization of semiconductors : infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)

موضوع : ، Semiconductors-- Testing-- Optical methods,، Semiconductors-- Optical properties

رده :
TK
7871
.
85
.
P426
1993

32. Photomodulated optical reflectance

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Semiconductors--Testing--Optical methods,Silicon--Optical properties,Silicon--Nondestructive testing

رده :
TK7871
.
85
.
B654
2012

33. Principles of Semiconductor Network Testing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Integrated circuits -- Testing.,Semi-conducteurs -- Essais.,Semiconductors -- Testing.

رده :
TK7874
.
A457
1995

34. RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Compound semiconductors-- Mathematical models.,Compound semiconductors-- Testing.,Field-effect transistors-- Mathematical models.,Field-effect transistors-- Testing.,Microwave measurements.,Radio measurements.

35. RF and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors /

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Compound semiconductors-- Mathematical models,Compound semiconductors-- Testing,Field-effect transistors-- Mathematical models,Field-effect transistors-- Testing,Microwave measurements,Radio measurements

رده :
TK7871
.
95
.
G36
2010

36. Reliability of gallium arsenide MMICs

موضوع : ، Microwave integrated circuits-- Reliability,، Microwave integrated circuits-- Testing,، Gallium arsenide semiconductors-- Reliability,، Gallium arsenide semiconductors-- Testing

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

37. Reliability of gallium arsenide MMICs

پدیدآورنده :

کتابخانه: (طهران)

موضوع : Microwave integrated circuits - Reliability , Microwave integrated circuits - Testing , Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Gallium arsenide semiconductors - Testing

رده :
TK
7876
.
R445

38. Reliability of gallium arsenide mmics

پدیدآورنده :

کتابخانه: (سمنان)

موضوع : ، Microwave integrated circuits- Reliability,، Microwave integrated circuits- Testing,، Gallium aresenide semiconductors- Reliability

رده :
TK
7876
.
R4

39. #Semiconductor device and failue analysis

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)

موضوع : Semiconductors- Failures ،Semiconductors- Testing ،Semiconductors- Microscopy ،Photon emission

رده :
#
TK
،#.
C47

40. Semiconductor device and failure analysis using photon microscopy

پدیدآورنده :

کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع : Semiconductors- Failures,Semiconductors- Testing,Semiconductors- Microscopy,Photon emission

رده :
TK7871
.
85
.
C47
2000